星云手机数码锂电池组保护板测试系统BAT-NEDQ-04-V010
特点
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测试精度高， 测试速度快 |
模块化设计，便于维修更换 |
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兼容Gas Gauge IC种类多，适用的IC包含美国TI公司系列管理IC（如: BQ27742 、BQ277410 、BQ28z610、 BQ27541、BQ 27545、BQ2753X系列管理IC） |
测试项目全，实现一站式测试 |
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测试精度高， 测试速度快 |
菜单式软件编程，操作方便 |
规格
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型号 |
BAT-NEDQ04-V010 |
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指标 |
范围 |
精度 |
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模拟电池输出电压 |
5~5000mV |
±0.2mV |
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模拟电池输出电流 |
0~3000mA |
±（0.01%R.D.+0.05%F.S.） |
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充电器输出/测量电压 |
100-~5000mV |
±（0.01%R.D.+0.01%F.S.） |
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5000~10000mV |
±（0.01%R.D.+0.02%F.S.） |
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充电器输出/测量电流 |
5~3000mA |
±（0.01%R.D.+0.01%F.S.） |
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模拟电池输出电压测量 |
50~1000mV |
±0.2mV |
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模拟电池电流测量（消耗电流测量） |
（mA档）0~3000mA |
±0.01% R.D.+0.05%F.S. |
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（uA档）1~2000uA |
±0.01% R.D.+1uA |
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（nA档）1~1000nA |
±0.01%R.D. +5nA |
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PACK电压测量 |
0~10000mV |
±（0.01%R.D.+0.01%F.S.） |
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测试项目 |
管理IC通讯测试、HDQ/Battery 电压测试、空载/带载电压测试、静态消耗电流测试、导通/识别/热敏电阻测试、PACK过压1过放测试、单节电池过压/过放测试、充/放电过温保护测试、充/放电过流1保护测试、充/放电过流2保护测试、短路保护测试、失效性保护测试、欠压/低温预充测试、GAS GAUGE IC过压二次保护测试、二次保护IC保护测试、电容测量（纯电容）、零欧电阻测量 |
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